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Características principales
Título del libro | Tdcv Characterization of Defects in Ultra Thin Sio2 Kinds of Films |
|---|---|
Autor | Jean-Yves Rosaye |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | LAP Lambert Academic Publishing |
Es kit | No |
Tapa del libro | Blanda |
Marca | LAP Lambert Academic Publishing |
Modelo | Jean-Yves Rosaye |
Otros
Con realidad aumentada | No |
|---|---|
Tipo de narración | Libro |
Edad mínima recomendada | 0 años |
ISBN | 9783838351544 |
Descripción
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