High-level Estimation And Exploration Of Reliability For ...
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Características principales
Título del libro | High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip |
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Autor | Zheng Wang |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Springer Verlag, Singapore |
Es kit | No |
Tapa del libro | Blanda |
Marca | Springer Verlag, Singapore |
Modelo | Zheng Wang |
Otras características
Con realidad aumentada | No |
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Tipo de narración | Libro |
Edad mínima recomendada | 0 años |
Edad máxima recomendada | 100 años |
ISBN | 9789811093210 |
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