Delay Fault Testing For Vlsi Circuits - Angela Krstic
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Características del producto
Características principales
Título del libro | Delay Fault Testing for VLSI Circuits |
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Autor | Angela Krstic |
Idioma | Inglés |
Editorial del libro | Springer Verlag New York Inc |
Es kit | No |
Tapa del libro | Blanda |
Marca | Springer Verlag New York Inc |
Modelo | Angela Krstic |
Otras características
Peso | 299 g |
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Con realidad aumentada | No |
Tipo de narración | Libro |
Edad mínima recomendada | 0 años |
Edad máxima recomendada | 100 años |
ISBN | 9781461375616 |
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